SEMICON China 2023将于6月29日-7月1日在上海新国际博览中心隆重举行。作为业内领先的半导体测试设备供应商，加速科技一直致力于打造国产化高性价比测试解决方案。展会期间，加速科技将携最新研发的LCD Driver测试机Flex10K-L、高性能数模混合信号测试机ST2500E、ST2500A、ST2500EX等新品亮相此次行业盛会。

展位信息：E5馆 5643号

SEMICON China 2023

(资料图片)

国产数字机 测试中国芯

展位号：E5馆 5643号

时间：2023年6月29日-7月1日

地点：上海新国际博览中心（浦东龙阳路2345号）

接下来我们先来剧透一波，看看即将展出的新品都有哪些亮眼之处。

LCD Driver测试机Flex10K-L

6月15日，加速科技正式发布国产大型LCD Driver测试机Flex10K-L，系统采用先进的设计架构，具有领先的测试性能和量产测试能力，可满足LCD、OLED、TDDI、DDI驱动芯片的 CP/FT测试，能有效降低高分辨率屏显驱动芯片的测试成本。产品基于自主研发，具备可扩展、高精度、高速率等多方面优点。

高密度数模混合信号测试系统ST2500E

ST2500E作为一台高密度数模混合信号测试机，通过硬件板卡和软件系统的演进和拓展，不断提高其测试能力和应用范围，在提高测试质量的同时，最大程度上保护用户在设备和技术能力上的投入。在一台ST2500E上可以配置多达16块DFB32板卡，I/O通道数最高支持512通道，512通道PPMU，64通道DPS，根据不同应用场景自由配置不同数量板卡。系统最大可以支持 4 机台级联，64 个功能槽位，最高支持 2048Sites 并测，具有极高的成本优势。

高性能数模混合信号测试系统ST2500A

ST2500A是基于ST2500系列产品扩展的一套不仅能够实现数字信号测试，同时还能满足模拟测试需求的测试系统。该系统具有丰富的板卡资源(DFB32、FOVI50、OTMU、CBIT、SMU20)，可以满足各类数模混合高并行测试需求。

高性能数模混合信号测试系统ST2500EX

加速科技推出的高性能数模混合信号测试系统ST2500EX，采用数模混合信号结构，集成数字、模拟信号测试功能，支持1024数字通道配置。硬件结构方面，采用Direct Docking连接方式，在大幅提升晶圆测试稳定性的同时，兼容性更强，可兼容J Type针卡，帮助降低客户转平台治具成本。ST2500EX还具有灵活的可扩展性，为后期扩展混合信号模块、射频模块奠定了良好基础。

多年来，加速科技将不断深耕半导体测试技术领域，持续加大创新研发力度，跟随产业发展潮流，不断推动产品迭代和技术升级，持续为客户提供高性价比测试解决方案。

6月29日-7月1日，上述新品将亮相加速科技E5馆 5643号展位，想了解更多产品信息，请与我们联系。